특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 입체형상측정장치(이중미러+이중빔분할기) |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 입체 형상을 가지는 측정물에 대한 최고점의 측정광과 동일한 기준광 및 최저점의 측정광과 동일한 기준광을 각각 생성하는 반사거리 조절수단을 구비하여, 측정물의 최저점과 최고점에 대한 간섭무늬를 동시에 획득할 수 있도록하는 입체 형상 측정장치에 관한 것이다. |
| 3. 특허권자 | (주)인텍플러스 |
| 4. 특허취득일자 | 2013-04-30 |
| 5. 특허 활용계획 | 당사 외관검사장비의 경쟁력 강화 |
| 6. 확인일자 | 2013-04-30 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 본 특허는 대만 특허임 |