특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 표면 형상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법(WSI+3D) |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 백색광 주사 간섭 원리를 이용하는 단일 장비에서 2차원과 3차원 정보 획득을 모두 실시할 수 있으며, 측정물 전체 면적에 대한 검사를 수행하는 대신 특정 영역에 대해서만 3차원 검사를 수행 할 수 있도록 하는 표면 형상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정방법에 관한 것 입니다. |
| 3. 특허권자 | (주)인텍플러스 |
| 4. 특허취득일자 | 2013-08-28 |
| 5. 특허 활용계획 | 당사 외관검사장비의 경쟁력 강화 |
| 6. 확인일자 | 2013-08-28 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 본 특허는 일본 특허임 |