특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | [미국특허]평판 패널 검사방법 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 평판 패널을 검사하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 각 화소의 회로 패턴을 검사하는 방법(박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정하여 불량 여부를 검사하는것)에 관한 것입니다. |
| 3. 특허권자 | (주)인텍플러스 |
| 4. 특허취득일자 | 2016-07-06 |
| 5. 특허 활용계획 | 당사 외관검사장비의 경쟁력 강화 |
| 6. 확인일자 | 2016-07-07 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 본 특허는 미국특허임 |