특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 측정 위치의 조절이 가능한 광 간섭 단층촬영 장치 (Optical Coherence Tomography Device Capable Of Controlling Measuring Position) |
| 2. 특허 주요내용 | - 본 특허는 광 간섭 단층촬영 장치(OCT, Optical Coherence Tomography)에 관한 것입니다. - 본 특허를 통해 측정 대상인 안구와 광 간섭 단층촬영 장치 사이의 동작 거리 조절 및 중심 정렬을 측정자의 숙련도와 무관하게 안구 단층 이미지를 단시간에 정확히 획득할 수 있는 장점을 가지고 있습니다. - 또한, 신호 획득 시 신호 손실을 유발하는 비네팅(Vignetting) 효과를 감소시킬 수 있는 광 간섭 단층촬영 장치를 제공할 수 있습니다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 휴비츠 |
| 4. 특허취득일자 | 2015-07-20 |
| 5. 특허 활용계획 | - 자사에서 연구개발 중인 광 간섭 단층촬영 장치(OCT,Optical Coherence Tomography)에 활용 |
| 6. 확인일자 | 2015-07-20 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 본 특허는 해외특허(미국) 입니다. |

