특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 전극패턴 검사장치 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 전극패턴 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 평면 TV용 글래스(GLASS) 패널에 형성된 전극패턴의 전기적 검사, 즉 오픈(OPEN) 및 쇼트(SHORT)여부를 검사할 수 있는 스캔식 전극패턴 검사장치에 관한 것이다. |
| 3. 특허권자 | 로체시스템즈(주) 외 1명 |
| 4. 특허취득일자 | 2012-02-14 |
| 5. 특허 활용계획 | 본 기술은 당사에서 개발중인 FPD검사장비에 적용하고 있습니다. |
| 6. 확인일자 | 2012-02-14 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - |