특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 비접촉식 어레이형 전극패턴 검사장치 |
| 2. 특허 주요내용 | 고해상도 글래스 패널에 형성되는 전극패턴의 전기적 검사를 안정적으로 수행할 수 있는 비접촉식 어레이형 전극패턴 검사장치가 개시된다. 상기 비접촉식 어레이형 전극패턴 검사장치는 글래스 패널의 전극패턴에 비접촉 방식으로 전기적 신호를 인가하는 프로브 및, 상기 프로브로부터 인가되어 전극패턴을 통해 전달되는 전기적 신호를 비접촉 방식으로 받아들여 상기 전극패턴의 오픈 및 쇼트여부를 검출할 수 있는 센서부를 포함하여 비접촉 방식으로 전극패턴의 전기적 검사를 수행할 수 있는 것을 특징으로 한다. |
| 3. 특허권자 | 로체시스템즈(주) |
| 4. 특허취득일자 | 2013-10-02 |
| 5. 특허 활용계획 | 당사의 글래스패털 검사장비에 적용되는 기술입니다. |
| 6. 확인일자 | 2013-10-02 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | 특허출원번호 10-2012-0011937 |

