특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 도전패턴 검사장치 및 검사방법 |
| 2. 특허 주요내용 | 기판상에 형성된 복수개의 도전패턴의 결함위치를 신속하고 간단하게 특정할 수 있는 수단을 제공한다. 도전패턴의 검사장치는, 제 1전극을 통해 도전패턴에 전기신호를 제공하는 공급부와, 도전패턴을 따라 제 1전극에서 소정의 간격으로 배치된 복수의 제 2전극을 통해, 도전패턴에서 공급부에 의해 인가된 전기신호를 각각 검출하는 수용부와, 제 1전극 및 제 2전극을, 첫 번째 도전패턴에서 N번째 도전패턴을 향해서 주사하는 조작부와, 수용부가 검출한 각 도전패턴의 전기신호를 토대로 단선이 있는 도전패턴의 개수번째 및 당해 도전패턴상에 있어서 단선의 위치를 판단하는 제어부를 구비함. |
| 3. 특허권자 | 로체시스템즈(주) |
| 4. 특허취득일자 | 2014-04-07 |
| 5. 특허 활용계획 | 당사의 LCD 제조장비에 적용될 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2014-04-07 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | 특허출원번호 10-2012-7004075 |