특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | ＬＴＥ 스몰-셀에서의 백홀 쓰루풋 측정 방법 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 LTE 스몰-셀에서의 백홀 쓰루풋 측정 방법에 관한 것으로, 특히 LTE 스몰-셀의 백홀 쓰루풋을 측정함에 있어서 실제 데이터 트래픽이 전달되는 이동통신 사업자의 코어 네트워크를 경유하는 경로에 대해 측정함으로써 LTE 스몰-셀에 대한 백홀의 상태 이상 여부를 정확하게 반영할 수 있도록 한 LTE 스몰-셀에서의 백홀 쓰루풋 측정 방법에 관한 것이다. |
| 3. 특허권자 | ㈜이노와이어리스 |
| 4. 특허취득일자 | 2014-06-16 |
| 5. 특허 활용계획 | 본 특허는 당사 영업 및 영업수익 향상에 활용될 예정임. |
| 6. 확인일자 | 2014-06-16 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - |