기타 경영사항(특허권 취득)(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 도전성 필름 부착시 압흔상태 검사방법 (Method of inspecting denting trace of anisotropic film) |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 도전성 필름 부착시 압흔상태 검사방법에 관한 것으로, 기판의 전극에 이방성 도전필름(ACF, Anisotropic Conductive Film)이 부착되고, ACF 상에 필름 또는 FPC(Flexible Printed Circuit)가 배치되고, 적절한 압력에 가해짐으로서, FPC와 기판의 전극이 접촉되어 도통되는 단계에서 발생되는 ACF내에 있는 도전입자 상태의 불량여부를 검사하는 방법입니다. 압흔상태 검사방법에 의하여 전수 검사가 가능한 검사 속도를 제공하여 검사 대상물에 대한 정밀한 검사가 가능하도록 하고, 완전한 사전 검사가 이루어지지 못함으로 인해 불량 자재가 다음 공정으로 전해지고 이로써 공정상 손해를 미칠 뿐 아니라 불량제품의 생산가능성을 높임으로 제품의 안정성을 감소시키는 문제점을 해결하는 효과가 있습니다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 제이스텍 |
| 4. 특허취득일자 | 2018-07-26 |
| 5. 특허 활용계획 | 해당 특허는 당사의 신제품에 적용하여 보다 우수하고 정밀한 검사장비를 공급 예정. |
| 6. 확인일자 | 2018-07-26 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2017-0060396 - 상기 취득일자는 관납료 납부일 기준입니다. |