기타 경영사항(특허권 취득)(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 반도체 메모리 장치의 고속 번인 테스트 시스템 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 패키지 된 반도체 메모리 장치의 번인 테스트 시스템에 관한 것으로서, 번인 보드에 실장된 복수개의 반도체 메모리 장치의 스캔(Write & Read) 동작을 효율적으로 제어하여 테스트 시간을 단축하는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | (주)엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2020-07-31 |
| 5. 특허 활용계획 | 해당 특허는 당사의 메모리 번인 테스터의 성능 향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2020-07-31 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일임. - 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2018-0032519 |