기타 경영사항(특허권 취득)(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 비동기 패턴 데이터를 제공하는 피검사 디바이스 테스트 시스템 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 SoC 또는 시스템 반도체와 같은 고도로 집적화된 피검사 디바이스 (Device Under Test, DUT)를 테스트함에 있어 동기화된 패턴 신호와 비동기화된 패턴 신호를 선택적으로 제공함으로써 비메모리테스터의 성능을 극대화하는 것을 목적으로 한다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 엑시콘 |
| 4. 특허취득일자 | 2021-10-25 |
| 5. 특허 활용계획 | 해당 특허는 SoC Tester 등 당사의 모든 반도체 검사장비의 성능향상 및 신제품 개발에 적용할 예정입니다. |
| 6. 확인일자 | 2021-10-25 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 상기 특허취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일입니다. - 특허등록국가 : 한국 - 특허출원번호 : 10-2020-0086665 |