특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | Tx 반 파형을 이용한 터치 패널의 단락 검출 방법 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명에서 제안하고 있는 Tx 반 파형을 이용한 터치 패널의 단락 검출 방법에 따르면, Tx 채널의 오프 상태에서 각 노드의 Rx 채널을 통해 제 1측정값을 검출하고, Tx 패널에 반 파장 구형파를 인가한 상태에서 각 노드의 Rx 채널을 통해 제2 측정값을 검출한 후 2개의 측정값을 비교하여 단락 여부를 판단할 수 있도록 함으로써, 별도 회로의 구현 없이 터치 컨트롤러(IC)의 기본 기능을 이용하여 일관된 방법으로 단락을 선별할 수 있도록 할 수 있다. 또한, 본 발명에 따르면, 기존의 종래 검출 방법에 비해 불량 위치를 명확히 할 수 있으며, 터치 컨트롤러(IC)에 별도 회로(단일 채널에 전하 인가 후 전하가 인가되지 않은 다른 전체 채널에서 전하량을 측정) 구성없이 터치 컨트롤러(IC)에 존재하는 기능만으로 측정이 가능하기 때문에 추가 비용이 발생되지 않도록 할 수 있다. 뿐만 아니라, 본 발명은, 실제 터치 컨트롤러(IC)가 동작하는 상태와 동일한 상태에서 측정되기 때문에 단락에 의해 터치 성능이 영향 받는 수준의 불량만 검출이 가능하도록 함으로써, 불량 정도에 대한 성능 저하 여부를 별도로 판단할 필요가 없도록 할 수 있다. |
| 3. 특허권자 | (주)이미지스테크놀로지 |
| 4. 특허취득일자 | 2016-08-22 |
| 5. 특허 활용계획 | 특허기술 적용을 통한 기술경쟁력 강화 |
| 6. 확인일자 | 2016-08-22 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | 출원번호 10-2015-0077312 |