특허권 취득(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 백라이트 유닛 검사장치 및 그 검사방법 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명은 백라이트 유닛의 검사장치 및 그 검사방법에 대한 것으로 더욱 상세하게는 백라이트 유닛을 수용하여 촬영 지점으로 이동시키는 검사테이블과 상기 검사테이블의 상부에 설치되어 백라이트 유닛의 표면을 촬영하는 카메라와, 상기 카메라의 하부에 설치되어 하측의 상기 백라이트 유닛을 반사투영시켜 다수의 시야각에 의한 상기 백라이트 유닛의 표면 영상을 상기 카메라에 제공하는 미러부와, 상기 미러부의 양측에 각각 설치되어 상기 백라이트 유닛으로 빛을 조사하는 조명과, 상기 카메라가 촬영한 백라이트 유닛의 영상을 전송받아 이를 기초로 백라이트 유닛의 결함을 검사하는 영상처리부를 포함하여, 하나의 카메라만으로도 다수의 시야각에 의한 백라이트 표면영상을 촬영할수있어 백라이트 유닛의 결함을 정확하게 검사할수있고, 장비의 간소화를 통한 경제적으로 유용하고 유지관리가 용이한 백라이트 유닛검사장치및 검사방법에 관한것이다. |
| 3. 특허권자 | (주)넥스트아이 |
| 4. 특허취득일자 | 2012-08-02 |
| 5. 특허 활용계획 | 백라이트 유닛의 검사장치 제품군에 기술 적용 |
| 6. 확인일자 | 2012-08-02 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | 특허출원번호 : 10-2009-0078768 |