기타 경영사항(특허권 취득)(자율공시)
| 1. 특허명칭 | 지문센서 품질 판정 시스템 및 그 판정방법 |
| 2. 특허 주요내용 | 본 발명의 지문센서 품질 판정시스템은 지문센서가 생성하는 지문 이미지의 품질을 검사하는 방법으로 지문센서의 품질을 판정합니다. 본 발명의 품질 판정방법은 단순히 지문 이미지의 선명도를 검사하는 방식의 모호함을 극복하기 위하여, 특징점의 분포 형태, 특징점이 분포로 인식되는 지문 영역의 크기, 특징점의 개수 그리고 개별 특징점의 품질을 종합적으로 이용하여 지문 이미지의 품질 즉 지문센서의 품질을 점수화하는 방법을 제시합니다. |
| 3. 특허권자 | 주식회사 유니온커뮤니티 |
| 4. 특허취득일자 | 2019-02-12 |
| 5. 특허 활용계획 | 본 특허는 지문센서를 채택한 스마트폰 등 모바일기기 및 다양한 제품군에 채택된 지문센서의 품질 및 성능을 비교판정 할 수 있는 시스템입니다. 다양한 지문 센서의 품질 및 성능을 수치화하여 제공함으로써 지문센서가 탑재된 제품을 생산하거나 생산계획에 있는 완성품 제조업체에서 제품 분석 및 평가 시스템에 활용이 가능합니다. |
| 6. 확인일자 | 2019-02-12 |
| 7. 기타 투자판단에 참고할 사항 | - 상기 특허는 국내 특허로 특허 취득일자 및 확인일자는 등록료 납부일입니다. - 출원번호 : 10-2017-0132601 |